BS EN 61967-6-2002+A1-2008 集成电路.150kHz到1GHz电磁辐射测量.第6部分:传导辐射测量.磁探测器法
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时间:2024-05-09 08:42:42
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【英文标准名称】:Integratedcircuits-Measurementofelectromagneticemissions,150kHzto1GHz-Part6:Measurementofconductedemissions-Magneticprobemethod
【原文标准名称】:集成电路.150kHz到1GHz电磁辐射测量.第6部分:传导辐射测量.磁探测器法
【标准号】:BSEN61967-6-2002+A1-2008
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2002-10-24
【实施或试行日期】:2002-10-24
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:校准;电气工程;电磁辐射;电子设备及元件;频率范围;高频;集成电路;磁的;测量;测量技术;印制电路板;探测法;试验组织;测试;测试条件;测试装置
【英文主题词】:Calibration;Electricalengineering;Electromagneticradiation;Electronicequipmentandcomponents;Frequencyranges;Highfrequencies;Integratedcircuits;Magnetic;Measurement;Measuringtechniques;Printed-circuitboards;Probemethods;Testset-ups;Testing;Testingconditions;Testingdevices
【摘要】:ThispartoftheIEC61967specifiesamethodforevaluatingRFcurrentsonthepinsofanintegratedcircuit(IC)bymeansofnon-contactcurrentmeasurementusingaminiaturemagneticprobe.ThismethodiscapableofmeasuringtheRFcurrentsgeneratedbytheICoverafrequencyrangeof0,15MHzto1000MHz.ThismethodisapplicabletothemeasurementofasingleICorachipsetofICsonthestandardizedtestboardforcharacterizationandcomparisonpurposes.ItisalsousabletoevaluatetheelectromagneticcharacteristicsofanICorgroupofICsonanactualapplicationPCBforemissionreductionpurposes.Thismethodiscalledthe"magneticprobemethod".
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_200;33_100_10
【页数】:46P.;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:集成电路.150kHz到1GHz电磁辐射测量.第6部分:传导辐射测量.磁探测器法
【标准号】:BSEN61967-6-2002+A1-2008
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2002-10-24
【实施或试行日期】:2002-10-24
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:校准;电气工程;电磁辐射;电子设备及元件;频率范围;高频;集成电路;磁的;测量;测量技术;印制电路板;探测法;试验组织;测试;测试条件;测试装置
【英文主题词】:Calibration;Electricalengineering;Electromagneticradiation;Electronicequipmentandcomponents;Frequencyranges;Highfrequencies;Integratedcircuits;Magnetic;Measurement;Measuringtechniques;Printed-circuitboards;Probemethods;Testset-ups;Testing;Testingconditions;Testingdevices
【摘要】:ThispartoftheIEC61967specifiesamethodforevaluatingRFcurrentsonthepinsofanintegratedcircuit(IC)bymeansofnon-contactcurrentmeasurementusingaminiaturemagneticprobe.ThismethodiscapableofmeasuringtheRFcurrentsgeneratedbytheICoverafrequencyrangeof0,15MHzto1000MHz.ThismethodisapplicabletothemeasurementofasingleICorachipsetofICsonthestandardizedtestboardforcharacterizationandcomparisonpurposes.ItisalsousabletoevaluatetheelectromagneticcharacteristicsofanICorgroupofICsonanactualapplicationPCBforemissionreductionpurposes.Thismethodiscalledthe"magneticprobemethod".
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_200;33_100_10
【页数】:46P.;A4
【正文语种】:英语
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